在電子電路中，除了接觸最多的電子元器件（ 例如電阻，電感，電容，二極管，三極管，集成電路等） 以外，還有其他常用電子元器件，如電聲器件，開關(guān)及接插件等。電子元器件的檢測(cè)是家電的維修一項(xiàng)基本功，安防行業(yè)很多工程維護(hù)維修技術(shù)也實(shí)際是來(lái)自于家電的維護(hù)維修技術(shù)，或是借鑒或同質(zhì)。如何準(zhǔn)確有效地檢測(cè)元器件的相關(guān)參數(shù)，判斷元器件的是否正常，不是一件千篇一律的事，必須根據(jù)不同的元器件采用不同的方法，從而判斷元器件的正常與否。
Delta德爾塔儀器專業(yè)為電子元器件的檢測(cè)提供整套測(cè)試儀器，我們可以各類電子、電器制造廠商提供一下檢驗(yàn)測(cè)試項(xiàng)目的專業(yè)儀器設(shè)備：集成電路測(cè)試：成品測(cè)試、老化篩選、失效分析等；破壞性物理分析：外部目檢、X射線檢查、粒子噪聲（PIND）試驗(yàn)、密封性試驗(yàn)、內(nèi)部氣體成分分析、內(nèi)部目檢、內(nèi)引線鍵合強(qiáng)度、掃描電鏡、芯片剪切強(qiáng)度；可靠性壽命和老化篩選：老化篩選試驗(yàn)、穩(wěn)態(tài)壽命試驗(yàn)、加速壽命試驗(yàn)、可靠性強(qiáng)化試驗(yàn)；環(huán)境試驗(yàn)：正弦振動(dòng)、隨機(jī)振動(dòng)、機(jī)械沖擊、碰撞（或連續(xù)沖擊）、恒定加速度、跌落、出點(diǎn)動(dòng)態(tài)監(jiān)測(cè)、溫度-振動(dòng)-濕熱三應(yīng)力試驗(yàn)、高低溫低氣壓、溫度循環(huán)、熱沖擊、耐濕、高壓蒸煮、鹽霧或循環(huán)鹽霧、霉菌、淋雨、氣體腐蝕、沙塵、熱真空、強(qiáng)加速穩(wěn)態(tài)濕熱（HAST）；物理性試驗(yàn)：物理尺寸、耐溶劑性、引出端強(qiáng)度、可焊性、耐焊接熱、封蓋扭矩、鍍層厚度、阻燃性試驗(yàn)。
電子元器件測(cè)試儀器應(yīng)用測(cè)試產(chǎn)品類型：半導(dǎo)體集成電路、混合集成電路、微波電路及組件、半導(dǎo)體分立器件、真空電子器件、光電子器件、通用元件、機(jī)電元件及組件、特種元件、外殼、電子功能材料及專用設(shè)備等。諸如安規(guī)繼電器、電動(dòng)器熱保護(hù)器、壓縮機(jī)用電動(dòng)機(jī)熱保護(hù)器、壓力敏感電自動(dòng)控制器、定時(shí)器和定時(shí)開關(guān)、電動(dòng)水閥、溫度敏感控制器、熱斷路器、電動(dòng)用起動(dòng)繼電器、濕度敏感控制器、安規(guī)電容器、陶瓷電容器、貼片電容、交流電動(dòng)機(jī)電容器、微波爐電容器、電磁爐用高壓電容器、小型熔斷器、電磁發(fā)熱線圈盤、高壓變壓器、高壓熔斷器等元器件進(jìn)行各項(xiàng)指標(biāo)合格性測(cè)試。
電子元器件測(cè)試儀器應(yīng)用類別：
儀器設(shè)備：全自動(dòng)臺(tái)式掃描電子顯微鏡
測(cè)試范圍：放大（360～20000）倍；觀察產(chǎn)品晶粒結(jié)構(gòu)和形貌，檢測(cè)產(chǎn)品的成分。
儀器設(shè)備：研磨拋光機(jī)和金相顯微鏡
測(cè)試范圍：研磨：尺寸≥0201的產(chǎn)品；放大倍數(shù)：50倍～1000倍
儀器設(shè)備：電容器高溫老化系統(tǒng)（0-600V）、高壓電容器高溫老化系統(tǒng)(0～4500V)、10kV高壓電容器老化臺(tái)(0-10kV)
測(cè)試范圍：電壓：(0～10000)V，精度：±2%；試驗(yàn)溫度：常溫～200℃，精度：±2℃
高頻參數(shù)測(cè)試
儀器設(shè)備：阻抗分析儀（20Hz～120MHz）、阻抗分析儀（1MHz～3GHz）
測(cè)試范圍：阻抗：25mΩ～40MΩ；頻率：20Hz~3GHz，常規(guī)測(cè)試Q值、ESR、ESL、諧振頻率等參數(shù)
高溫絕緣電阻
儀器設(shè)備：電容器高溫高阻測(cè)試系統(tǒng)
測(cè)試范圍：試驗(yàn)溫度Tmax：150℃，精度：±2℃；絕緣阻值：（1×103～1×1014）Ω
ROHS檢測(cè)
儀器設(shè)備：等離子體光譜儀（ICP）、氣相質(zhì)譜聯(lián)用儀（GC-MS）
測(cè)試范圍：測(cè)量光學(xué)光譜（120nm～800nm）；用于檢測(cè)產(chǎn)品的有機(jī)成分，即可做定量也可做定性分析
耐濕、潮態(tài)濕熱
儀器設(shè)備：高低溫濕熱試驗(yàn)箱
測(cè)試范圍：溫度范圍：(-40～150)℃，精度：±2℃；濕度：(25～98)%RH 精度：±3%
儀器設(shè)備：矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀
測(cè)試范圍：頻率范圍：10MHz～20GHz，常規(guī)測(cè)試：SWR、S11、S12、S21、S22
粒徑
儀器設(shè)備：激光粒度分析儀
測(cè)試范圍：（0.77～14.2）μm，精度：±15%
超聲波檢查
儀器設(shè)備：超聲波掃描儀
測(cè)試范圍：分辨率：±0.3μm；非破壞性、無(wú)損傷檢測(cè)材料或芯片內(nèi)部結(jié)構(gòu)，可分層掃描、多層掃描，實(shí)施、直觀的圖像及分析，缺陷的測(cè)量及百分比的計(jì)算。
射線檢查
儀器設(shè)備：X射線檢查系統(tǒng)
測(cè)試范圍：檢測(cè)出微米級(jí)、納米級(jí)缺陷；用于快速2D檢測(cè)，同時(shí)可以3D（μCt）斷層掃描
高頻振動(dòng)
儀器設(shè)備：電動(dòng)振動(dòng)試驗(yàn)系統(tǒng)
測(cè)試范圍：頻率：(5~3000)Hz；；加速度：(100~1000)m/s2；位移峰峰值：25mm
機(jī)械沖擊
儀器設(shè)備：沖擊試驗(yàn)臺(tái)
測(cè)試范圍：加速度：(30～1500)g；脈寬：（0.5～20）ms；常規(guī)試驗(yàn)：半正弦波，后峰鋸齒波，梯形波。
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